UV-A紫外輻照計(jì)(雙通道)
UV-A型紫外輻照計(jì)采用SMT貼片技術(shù),選用高低功耗數(shù)字芯片,儀器外殼為流線型設(shè)計(jì),探測器經(jīng)過嚴(yán)格的光譜及角度特性校正,性能穩(wěn)定,適用性強(qiáng)。該儀器適用于光化學(xué)、高分子材料老化、探傷、紫外光源、植物栽培、以及大規(guī)模集成電路光刻等領(lǐng)域的紫外輻照度測量工作。
產(chǎn)品特點(diǎn):
* 光譜及角度特性經(jīng)嚴(yán)格校正
* 數(shù)字液晶顯示,帶背光
* 手動/自動量程切換
* 數(shù)字輸出接口(USB冗余供電)
* 低電量提醒
* 自動延時(shí)關(guān)機(jī)
* 有數(shù)字保持
* 輕觸按鍵操作,蜂鳴提示
主要技術(shù)指標(biāo):
探頭: |
UV-420nm 探頭 |
UV-365nm 探頭 |
|
波長范圍及峰值波長: |
λ:(375~475)nm;λP=420nm |
λ:(320~400)nm;λP=365nm |
|
紫外帶外區(qū)雜光: |
UV420:小于0.02% |
UV365:小于0.02% |
|
輻照度測量范圍: |
(0.1~199.9×103) μW/cm2 |
||
相對示值誤差: |
±10%(相對與NIM標(biāo)準(zhǔn)) |
||
角度響應(yīng)特性: |
±5%(α ≤10°) |
||
線性誤差: |
±1% |
||
短期不穩(wěn)定性: |
±1%(開機(jī)30min后) |
||
響應(yīng)時(shí)間: |
1秒 |
||
使用環(huán)境: |
溫度(0~40)℃,濕度<85%RH |
||
尺寸和重量: |
160mm×78mm×43mm;0.2kg |
||
電源: |
常規(guī)使用6F22型9V積層電池一只 |
||
|