IP1帶球試驗探棒|IEC61032圖1|Test probe A
基本簡介:
1、根據(jù)GB/T4208-2008、IEC61032:1997、IEC60529:2001及UL等相應條款制作而成。
技術參數(shù):
1、探球直徑:50mm
2、擋板直徑:45mm
3、擋板厚度:4mm
4、手柄直徑:10mm
5、手柄長度:100mm
6、根據(jù)IEC61032圖1(Test probe A) 、GB/T4208-2008表6(位特征數(shù)字1)。
IP2試驗探棒|IEC61032圖2|Test probe B
產(chǎn)品概述:
符合GB4706、GB2099、GB4943、GB4208IPX2、GB3883圖1、IEC61032圖2試具B、IEC950圖2A、IEC60884、IEC60335、GB/T16842試具B、UL507、EN60529圖1、UL1278圖8.4等標準要求。用于防止手指觸及或防觸電檢驗的防護檢驗。
基本簡介:
1、根據(jù)GB4706.1-2005、GB2099.1-2008及相關IEC61032、UL等相應條款制作而成。
技術參數(shù):
1、彎指直徑:12 mm
2、彎指長度:80mm(三節(jié)總長度)
3、擋板直徑:50mm
4、擋板長度:100mm
5、參考標準:GB4706.1-2005第8.1.1條、IEC61032:1997 圖2
IP3X試驗探針|IEC61032圖3|Test probe C
基本簡介:
1、根據(jù)GB/T4208-2008、IEC61032:1997、IEC60529:2001及UL等相應條款制作而成。
技術參數(shù):
1、探棒長度:100mm
2、探棒直徑:2.5mm
3、檔球直徑:35mm
4、手柄直徑:10mm
5、手柄長度:100mm
6、根據(jù)IEC61032圖3(Test probe C) 、GB/T4208-2008表6(位特征數(shù)字3)。
IP4X試驗探針|IEC61032圖4|Test probe D
產(chǎn)品概述:
符合IEC61032 圖4 試具D、IEC60529IP3、GB4208IP4、GB/T16842 試具D、GB8898、IEC60065、
IEC60598、GB7000 等標準要求。用于防止手持金屬絲觸及的防護檢驗。
可訂制帶1±0.1N 推力。
技術參數(shù):
1、探棒長度:100mm
2、探棒直徑:1mm
3、檔球直徑:35mm
4、手柄直徑:10mm
5、手柄長度:100mm
6、根據(jù)IEC61032 圖4(Test probe D) 、GB/T4208-2008 表6(位特征數(shù)字4/5/6)。
7.使用方法:如圖所示,標準試驗指的關節(jié)部分不能觸及帶電部件或不能接近危險部件,并且35mm的圓擋板不能進入。
防止接近危險部件的試驗要求中,C、D型試驗探棒需帶3±0.3N N或1±0.1N推力。
注意:不帶推力產(chǎn)品請配合推拉力計使用。
8.注意事項:請不要輕易調(diào)整推力,如需調(diào)整,請使用分辨至少為0.033N儀器對C、D型試驗探棒進行校準。由于試驗探棒較為精密機械產(chǎn)品,使用時請輕拿輕放,妥善保管。
試驗探棒頂部可能會生銹,注意保養(yǎng)防護。
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